Aniq va yuqori aniqlikdagi nivelirlash haqida tushuncha.

0
Aniq va yuqori aniqlikdagi nivelirlash xaqida tushuncha.

Aniq va yuqori aniqlikdagi nivelirlash xaqida tushuncha.

Aniq va yuqori aniqlikdagi nivelirlash haqida tushuncha.

Aniq va yuqori aniqlikdagi nivelirlash haqida tushuncha.Zamonaviy noyob inshootlarni kurishda o‘rta kvadratik xatoligi 0,1—0,2 mm dan oshmagan katta hajmdagi balandlikni o‘lchash ishlarini bajarish talab etiladi. Bu darajadagi yuqori aniqlikni  ta’minlash  imkoniyati  bo‘lgan  o‘lchash  usulini  aniqlash  uchun  jiddiyilmiy  —tadkiqot  ishlarini  bajarish talab, etiladi.

Asosiy e’tibor yuqori aniqlikdagi nivelirlarni tanlash va tadqiqot etishga,  maxsus shkala va vizir nishonlarni ishlab chikishga, asbob balandligini etarli aniqlikda, mikrometrli  nivelir  tagligini   o‘zgartirishni   ta’minlovchi,   xamda  kisqa nurlar yordamida nivelirlash usulini  takomillashtirishga qaratiladi. Qisqa nurlar yordamida yuqori aniqlikda geometrik nivelirlash usuli

ishlab chiqilgan va qurilishda hamda ko‘pgina inshootlarning konstruksiyalarini va fundamentlar  cho‘kishini o‘lchashda asosiy usul sifatida qo‘llanilmoqda. Xozirgi vaqtda bu usul keng tarqalgan,  uning afzalligi shundan iborat:

-yuqori aniqlikda o‘lchashligi;

-murakkab bo‘lmagan va arzon asboblar talab etilishida;

-qiyin   sharoitlarda   qurilish   maydonlarida   o‘lchash   ishlarni   bajarish   mumkinligi,   ular yordamida keng xaroratli diapazonda montaj yoki beton va yer ishlarini bajarilishi va xokazo.
Yuqori  aniqlikda  nivelirlash  yordamida  10—15  metr  oralikda  joylashgan  ikkita  nuqta balandligining farqini 0,03+0,05 mm o‘rta kvadratik xatolikda aniqlash mumkin. Bir — biridan bir  necha yuz metr uzoqlikda joylashgan ikkita nuqta balandligining farkini o‘rta kvadratik xatoligi esa  0,1+0,2 mm aniqlikda ta’minlanadi.

Geometrik nivelirlash usulining asosiy kamchiligi axborotni masofadan uzatish yoki o‘lchash  jarayonini    avtomatlashtirishning    murakkabligidadir.    Shuning    uchun    ayrim    inshootlardan  foydalanish davrida, ya’ni zaryadlangan zarrachalarni tezlatgichlarini, atom reaktorlarini va boshqa  yuqori radiatsiyaga ega bo‘lgan inshootlarda yoki yuqori chastotali qudratli kuchlanish manbalarda  o‘lchashlarni faqat profilaktik to‘xtashlar paytida echish mumkin.

Shuning uchun sikllar orasida  katta intervalli vaqt o‘tadi, o‘lchash laxzasini tanlash murakkablashadi va maksimal deformatsiya  kutilayotgan davrga to‘g‘ri kelmasligi mumkin. Tadkikotlar ko‘rsatadiki, yassi parallel plastinkaga ega bo‘lgan NA-1,N-1,

N-0,5, Nt -0,07, Ni-0,04 , Dini-1l, Dini-21T turdagi nivelirlar yuqori aniqlikni ta’minlaydi.
Yopiq inshootlarda yuqori aniqlikda nivelirlashni bajarish, nisbatan osonroq erishiladi. Bir qator  mualliflar  ning  tadqiqotlari  shuni  ko‘rsatadiki  yuqori  aniqlikda  nivelirlash  ochik  xavoda  bajarilganda, soyabondan foydalanishdan tashkari nivelirni qo‘shimcha issiqlikdan ximoyalovchi  asbobdan foydalanish maqsadga muvofiq bo‘ladi.

Bu esa i burchak qiymatini 2 marta kamaytiradi va nivelirlash aniqligini oshiradi. Barcha  hollarda nivelirning asosiy shartini tadqiqot qilishda maxsus stend barpo etish lozim. Buning uchun  bino  devorida  teng  balandlikda  2  ta  shkala  o‘rnatiladi.

Bunday  murakkab  bo‘lmagan  qurilma  nivelirning bosh shartini zudlikda nazorat qilishni ta’minlaydi. Nivelirning asosiy shartini nazorat  etish chastotasi asosan, nivelirning turi, tashqi muxitning o‘zgarmasligi, maydondagi silkinishlar  miqdori va xar bir konkret xolat uchun eksperemental ravishda aniqlanadi.

Agar nivelirning asosiy  sharti  ikkilangan  nivelirlash  usuli  bilan  tekshirilmasdan,  sezilarni  elka  tengsizligidagi  ikkita  o‘lchashlar oshirilgan bo‘lsa, qarash trubasini qayta fokuslashga alohida etibor berish lozim bo‘ladi. Bu  holda  bosh  shartni  bajarishda  ikkilangan  nivelirlash  usulidan  foydlanish  e’tiborga  molikdir.

Yassi   parallel   plastinkali   yuqori   aniqlikdagi   nivelirlarni   tadqiq   etishda,   uning   turli  uchastkalarida baraban bo‘lakchasining qiymatini aniqlash maqsadga muvofiqdir. Buning uchun  0,5   1.0mm bo‘laklarga bo‘lingan shkala tayyorlanadi va UIL — 21 yoki IZA—2 turidagi o‘lchov  mikroskopda komporirlanadi, oraliqlarning pasportdagi qiymati bilan baraban sanog‘n bo‘yicha  aniqlangan interval miqdorini takkoslash natijasida kerakli axborotni olish mumkin.

Agar bitta  shtrixdan emas, balki bissektor yoki vizir nishonning murakkab shaklidan foydalanilsa, baraban  mikrometrini tadqiq qilishda murakkab bo‘lmagan qurilmadan foydalanish qulaydir.

Shkala  mikrometr  vinti  yordamida  ko‘chirish  uchun  moslashgan,  ko‘chirish  miqdorini  mikrometr  yoki  soat  turidagi  indikator  yordamida  aniqlanadi.  Bunday  moslama  mikrometr  barabanini tadkiq qilishda talab etilgan oraliqni tanlash imkonini beradi.

YUqori  aniqlikda  nivelirlash  ishlari  tajribasi  kursatadiki,  noyob  nivelir  tagligni  qo‘llash  nivelirlash  aniqligini  va  ishlab  chiqarish  unumdorligini  sezilarni  oshirishga  imkon  beradi.  Ish  paytida taglik nivelir shtativining bosh kis miga o‘rnatiladi. Noyob nivelir tagligi platformaga  o‘rnatiladi  va  siquvchi  planka  yordamida  maxkamlanadi.  Platforma  nivelir  bilan  100  mm  balanddikda  ravon  siljishi  mumkin.  Bunda  nivelir  kiyaligi  ±10  dan  oshmaydi.  Noyob  nivelir  tagligini qo‘llab nivelirni o‘rnatish stansiyadagi ish vaqtining 10% ni tashkil etadi.

Noyob nivelir tagligi yuqori aniqlikdagi nivelir bilan komplektda bo‘lsa, stansiyadagi nazorat
uslubini  o‘zgartirishi  mumkin.  Ma’lumki,  yuqori  aniqlikda  nivelirlashda  stansiyadagi  nazoratishlari, reykaning asosiy va qo‘shimcha sanoqlar bo‘yicha hisoblanilgan nisbiy balandliklar farqini  taqqoslashdan  iboratdir.

Ammo  ikki  shkalali  reykada  qo‘shimcha  shkala  shtrixi  asosiy  shkala  shtrixiga nisbatan 2,5 mm ga siljigan bo‘ladi, asosiy shkaladan olingan sanok qo‘shimcha shkaladan  olingan sanoqdan+98 sanoq barabani mikrometrining 50 bo‘lagiga farq qiladi va nazorat o‘lchoviga  ma’lum darajada bog‘liq bo‘ladi. Bu asosan qo‘shimcha shkala bo‘yicha sanoq bevosita asosiy  shkala bo‘yicha olingan sanoqdan keyin olinganda namoyon bo‘ladi.

Oddiy shtativ bilan asbobning ikkita gorizontida nivelirlash nixoyatda mashshaqatli ishdir.  Asbob gorizontini o‘zgartirish uchun noyob nivelir tagligidan foydalanish ancha qulay, ayniqsa  vizirlash chizig‘ini o‘zi o‘rnatadigan nivelirlar qo‘llanilganda.

Texnologik qurilmalar va inshoot devoriga mahkamlangan reykalar bo‘yicha qisqa vizirlash  nurli  yuqori  aniqlikda  geometrik  nivelirlash,  ikkita  bajaruvchi  bilan  amalga  oshiriladi.  Noyob  inshootlardan foydalanish vaqtida bu o‘lchashlar bo‘yicha, odatda inshootning holatini taxlil qilish  uchun barcha shkalalar balandligi hisoblanadi, texnologik kurilmalarga o‘rnatilgan shkaladan uning  siljishi   kuzatiladi,   devorga   o‘rnatilgan   shkala   bo‘yicha   esa   qurilish   konstruksiyasining  deformatsiyasi va fundament cho‘kishi aniqlanadi. Binobarin shunday xolat bo‘lishi mumkinki,  o‘rtadan turib geometrik nivelirlashni bajarishning imkoni bo‘lmaydi. Bunday holatlarda vizirlash nuri uzunligi farqini saqlagan holda. nisbiy balandlikni ikkilangan  o‘lchashini qo‘llash maqsadga muvofiq bo‘ladi . Aniq va yuqori aniqlikdagi nivelirlash haqida tushuncha.

Muallif: A. Ganiyev.

Mavzular.

manba